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IPE Seminar
Reliability of Embedded FPGA-SoC Systems in Long-Term Physics Experiments
by
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Europe/Berlin
Description
Master-Abschlussvortrag
Zusammenfassung:
Ziel dieser Arbeit ist es, die Zuverlässigkeit von DAQ-Systemen im Umfeld physikalischer Langzeitexperimente zu verbessern. Um dies zu erreichen, werden bestehende Methoden zur Verlässlichkeitsanalyse eingesetzt, um ein Fehlermodell zu erstellen. Dieses Fehlermo- dell wird genutzt, um ein Konzept zu erstellen welches erlaubt, verschiedene Methoden zur Verbesserung der Verlässlichkeit zu bewerten. Zusätzlich wird eine Beispielimplemen- tierung basierend auf einem Entwicklungssystems für solch ein Experiment bereitgestellt. Diese zeigt die Anwendbarkeit des Konzepts.
Abstract:
Goal of this thesis is to enhance the reliability of DAQ-Systems in the context of long-term physics experiments. To achieve this, existing reliability analysis methods are employed to create an error model. The error model is used to create a concept that allows to evaluate reliability improvement methods. Additionally, an example implementation based on a development system for such an experiment is provided. It shows the applicability of the concept.
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